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一种基于自适应技术的二维平面采样方法

完成时间:2018-11-06

标的金额:面议

性质:其他

发布日期 2018-11-20 行业类别 其他
成熟度 合作方式

详细介绍

本发明涉及一种基于自适应技术的二维平面采样方法,首先使用均匀的稀疏网格进行一次采样,由评估算法对采样结果进行评价,得到具有不同频率范围的分区域,对各分区域的网格测量点进行替换;然后由新生成的网格对采样物体的表面进行二次采样,再次使用评估算法对测量结果进行评价,根据频率的高低对网格进行修正;如此反复进行修正,直到通过评估算法为止。最后由测量系统根据此测量网格对需采样物体表面进行采样。本发明能保证采样点个数最少,也能保证相同采样点个数情况下,采样效果最佳。

基本信息

单位名称:
联系人: 邵小姐
通讯地址:
联系电话: 15906580054 E - mail:
传真: 网  址:
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